對于液面相對平穩(wěn)的罐體，且被測液體的介電常數(shù)較高，可以選擇普通雷達物位計。對于液面波動大、或帶有攪拌的罐體，或被測液體的介電常數(shù)較低，應優(yōu)選導波雷達。因為導波管對液面有整型作用，且導波雷達的微波反射不易受環(huán)境條件變化的影響。

被測液體的介電常數(shù)和密度變化對測量結(jié)果沒有影響。對于粘度≤500cst且不易產(chǎn)生粘附的介質(zhì)，管式探頭是最佳方案，可用于介電常數(shù)大于等于1.4的任何介質(zhì)，測量與介質(zhì)的導電性無關，罐內(nèi)障礙物及短管尺寸不影響測量，比桿式探頭能承受的橫向壓力高。

對于高粘度的介質(zhì)，被測液體的粘度≥500cst，且液體粘附性較強的情況，不能選擇導波管方式測量，因為粘附和結(jié)晶會堵死導波管，從而形成虛假物位，可以選擇導波桿方式來測量。

介質(zhì)在探頭上的涂污對測量物位的影響可分為兩種：膜狀涂污和橋接。膜狀涂污是在物位降低時，高粘液體或輕油漿在探頭上形成的一種覆蓋層，由于這種涂污在探頭上涂層均勻，因此對測量基本無影響；但橋接性涂污的形成卻能導致明顯的測量誤差，當塊狀或條狀介質(zhì)污垢粘結(jié)于波導體上或橋接于兩個波導體之間時，就會在該點測得虛假物位。

由于液面波動和隨機噪聲等因素的影響，檢測信號中必然混有大量噪聲，為了提高檢測的準確度，必須對檢測信號進行處理，盡可能消除噪聲。

對于有泡沫的液位測量：進料飛濺引起的泡沫或介質(zhì)中混雜的泡沫對雷達波的反射沒有影響。

對一些泡沫較少的介質(zhì)，選用專用雷達進行測量，在介質(zhì)選項中選介質(zhì)泡沫，可以對有泡沫的液位進行較準確的測量。但劇烈化學反應產(chǎn)生的大量厚重的泡沫會吸收和散射雷達波，回波質(zhì)量很差。

酒鋼選礦廠二浮選槽液位，由于槽內(nèi)劇烈的化學反應產(chǎn)生大約1m多厚的泡沫，采用包括很多進口品牌高頻型等多種雷達，都不能解決這一問題。

對于帶有蒸汽的液位測量：實際應用中常常遇到蒸汽很大的液位測量問題，如酒鋼焦化廠鼓風冷凝液槽，安裝后一直很正常，測量也比較準確，但是使用一周多后，開始出現(xiàn)失波現(xiàn)象，檢查不出任何問題，重新安裝又恢復正常。

這樣反復多次，都不能解決問題。理論上說蒸汽對雷達不會有任何干擾，這正是它的優(yōu)點。通過分析，認為形成干擾的不是蒸汽，而是凝結(jié)在發(fā)射天線上的冷凝水。改用棒式天線，冷凝水順天線流掉，問題得到解決。增加吹掃裝置也可以解決這一問題。